Deben si occupa di ingegneria elettromeccanica di precisione per accessori nel campo della microscopia elettronica. Il suoi prodotti si possono suddividere in:
- Stage tensili per prove di trazione, compressione e flessione “in situ”.
- Accessori per il controllo del fascio elettronico e accessori SEM.
- Detector per acquisizione dei segnali.
Stage per SEM da tavolo
In-Situ TensileTesting
Sistemi per SEM
SEM & TEM Detectors
Stage per SEM da tavolo
Tilting/Rrotating Stage
Il sistema è uno stage aggiuntivo che si applica allo stage del SEM da tavolo tramite la porta speciale della Deben che sostituisce la porta dello stage Hitachi. Consente la rotazione ed il tilt dei campioni.
Specifiche tecniche:
– Rotazione: in continuo 360°
– Range di tilt: -15° + 60°
– Controlli: manuali
– Verifica visiva: tramite CCD ad infrarossi con monitor TFT da 5,6″ per l’osservazione dell’interno della camera.
– Grandezza dei campioni: 26mm di diametro e 9mm altezza
Cooling Stage
Il sistema è uno stage aggiuntivo che si applica allo stage del SEM tramite la porta speciale della Deben che sostituiche la porta dello stage Hitachi.
Consente il congelamento dei campioni nella camera del SEM per l’osservazione di campioni biologici idratati.
Specifiche tecniche:
– Range di temperatura per lo Stage standard: da -25° a +50°
– Range di temperatura per lo Stage Ultra: da -50 a +50°”
– Accuratezza della temperatura: +/- 1,5°
– Risoluzione della lettura della temperatura: 0,1°
– Stabilità della temperatura: +/- 0,2°
– Modulo di controllo con la lettura della temperatura impostata e della temperatura reale.
Tensile Stage
Il sistema è uno stage aggiuntivo che si applica allo stage del SEM tramite la porta speciale della Deben che sostituiche la porta dello stage Hitachi.
Consente di osservare in diretta il campione durante la trazione o la compressione dello stesso fino a 1KN di forza (è disponibile anche la versione da 300N).
Specifiche tecniche:
– Tipi di applicazione della forza: trazione, compressione e piegamento.
– Range di forza di trazione: da 1 a 1.000 N (è disponiobile anche la vesione fino a300N).
– Range di velocità: da 0,1 mm/min. a 1,5 mm/min
– Spostamento totale: da 10 a 20 mm o da 25 a 35 mm.
– Risoluzione: 1000:1 dinamica e 2000:1 statica in tutta la scala di forze.
– Accuratezza: +/- 1% sill’intera scala di forze.
In-Situ TensileTesting
Sistemi di trazione/compressione per misure in-situ
I vari modelli disponibili possono essere montati nella maggior parte dei SEM come anche dei microscopi ottici, microscopi RAMAN, AFM etc.
Il modello MT1000 può essere anche alloggiato nella camera del SEM da banco Hitachi TM4000 come stage supplementare e la sua facilità d’uso è paragonabile a quella dello stesso SEM Hitachi da tavolo TM4000.
200N Stage di Compressione e Piegatura orizzontale per SEM
300N & 2kN Piegatura verticale a 3&4 punti
Stage di trazione con inserto a doppia vite per XRD, ottico e sincrotrone
Stage tensile a 2kN e 5kN per SEM EBSD
Stage tensili per uXCT
Stage 20kN in situ per tensione, compressione e torsione per sincrotrone e radiografia a raggi X
Stage di trazione biassiali e quad assiali
Sistemi per SEM
CCD Camera
Cool Stages
Beam blanker
Stage Motorizzato
CCD ad infrarossi per l’osservazione dell’interno delle camere dei SEM.
Cool stages per il riscaldamento/raffreddamento del campione.
Coolstage Standard per SEM da -25°C a +50°C
Coolstage Avanzato da -25°C a +160°C
Coolstage ULTRA da -50°C a +50°C
Sistemi “Beam blanker”
Stage Motorizzato
Specifiche:
– Motori passo passo con 50.000 impulsi/giro
– Step tipico 10nm (dipende dalla meccanica dello stage)
– Velocità selezionabile da 20nm/sec. a 2,5mm/sec.
– Encoder rotativi da 2.000 impulsi/giro.
– Limiti elettronici programmabili.
– Manopole per la movimentazione manuale.
– Ripetibilità tipica di 1, 2 um
– Memorizzazione fino a 100 coordinate.
– Diverse sequenze programmabili con diversi tipi di scansioni.
– Offset dell’origine selezionabile (exchange position).
– Correzione del “Backlash”.
Detector SEM e TEM
Detector BSE a 4 settori per SEM
Da 30 anni d’esperienza nella costruzione di detector BSE, la Deben, con il modello Gen5 con controllo a microprocessore, ha raggiunto altissimi livelli di sensibilità, velocità e basso rumore. L’amplificatore del modello Gen5 ha quattro canali d’ingresso e, a scelta uno o tre differenti uscite video. Qualunque parametro può essere ottimizzato via microprocessore e, con i nuovi cristalli di silicio per bassa tensione, l’immagine viene facilmente e velocemente ottimizzata anche a velocità TV.
Specifiche:
– Scelta tra cristalli a quattro quadranti di 10mm, 18mm o 24mm di diametro
– Un canale video in uscita (tre sono possibili opzionalmente)
– Amplificazione 8.000.000 a 1
– Visione a velocità TV di eccellente qualità
– Sistema di estrazione del detector con eccellente riposizionamento (motorizzabile come opzione)
– Ottimizzazione di diversi parametri dei quattro settori del cristallo di Silicio
– Software di controllo tramite PC
– Collegamento tramite USB o RS232
– Disponibile versione UHV
Note Applicative: Electron Microscopy’s very own ‘Spider-Man’!
Detector Centaurus per CL e BSE
Detector a scintillatore per catodoluminescenza per immagini monocromatiche con lo specchio facilmente scambiabile con un “Tip” con copertura di fosforo che trasforma il detector in un BSE con un piccolo extra costo.
Detector adatto ad immagini con basse tensioni di accelerazione.
Cathodoluminescenza (CL):
– Disponibile per la maggior parte sei SEM o FE-SEM.
– Eccellenti prestazioni alle basse tensioni di accelerazione
– Specchio parabolico ad alta efficienza.
– Grande risoluzione spaziale.
– Opera a basse ed alte tensioni di accelerazione
– Range dinamico da 185 a 850 nm (standard) ed in opzione da 400 a 1200nm
Backscatter (BSE):
-Risoluzione in numero atomico ottima.
-range dinamico da 300 a 650 nm
-Scintillatore parabolico ad alte prestazioni.
Motorizzazione della inserzione:
E’ possibile (come opzione) avere l’inserzione motorizzata del detector con isolamento tramite soffietto per ambienti in alto vuoto.
Note Applicative: University of Aberdeen: Geological studies, SE Asia: Geological specimens
Detector STEM per campo scuro/chiaro per SEM
Il detector STEM utilizza il detector BSE Centaurus con un detector a semiconduttore retraibile con quattro settori per il DF (campo scuro), collegati a due a due, ed un singolo diodo per il BF (Campo chiaro).
Il detector è in grado di operare in BF, DF e DF con contrasto di fase mescolando i segnali dai diversi settori (DF + BF per esempio).
Un porta-campioni con 12 posizioni per griglie da 3 mm con il detector Gen5 che, inserito manualmente o con la motorizzazione (opzione), si posiziona sotto la griglia.
Il detector Deben Gen5 electronics permette di utilizzare il Sistema STEM con qualunque microscopio a scansione.
Il portacampione a 12 posizioni è adattabile a qualunque stage, è compatibile con sistemi dotati di precamera ed è fornito con tutte le interfaccie a seconda del modello del SEM.
Il detector Gen5 ha controlli in X, Y e Z per il perfetto posizionamento all’interno della camera, il sistema di controllo ha quattro canali in ingresso ed una uscita video ma opzionalmente può arrivare a tre uscite video in simultanea.
Diodi Standard per Detector STEM
L’immagine mostra tre detector standard per STEM per le differenti applicazioni:
1) Il primo a 4 elementi permette le applicazioni base STEM ed è adatto nel campo della biologia.
2) Il secondo detector (anulare) è adatto ad entrambi i campi biologico e scienze dei materiali e da la possibilità di avere immagini BF, DF o HAADF (campo scuro ad alto angolo).
3) Il terzo, a quattro settori, è adatto alle applicazione nelle scienze dei materiali e permette di avere immagini in DF e HAADF selezionando i segmenti HAADF in contrasto di fase.
Diodi Speciali per Detector STEM
Diodi speciali per applicazioni particolari sono disponibili come:
Son disponibili diodi per applicazioni particolari, come: detector anulare a diversi settori, detector a 8 settori per applicazioni con HAADF.
1) detector anulare a diversi settori
2) detector a 8 settori per applicazioni con HAADF.
