MICROSCOPIA ELETTRONICA

 

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Tabletop SEM

TM4000Series

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Conventional SEM

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Conventional SEM
Conventional Scanning EM

SEM

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Focused Ion Beam SEM

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Focused Ion Beam SEM
Transmission EM

TEM

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Atomic Force Microscope

AFM

Atomic Force Microscope

Conventional Scanning Electron Microscope 

Microscopio Elettronico a scansione SU3500

L’innovativa sorgente di elettroni e i rivelatori offrono prestazioni di imaging e analitiche superiori. La tecnologia “Hex bias” offre un’elevata luminosità a basse tensioni di accelerazione e il rilevatore a pressione ultra-variabile è ottimizzato per la superficie di imaging a basse pressioni. L’Hitachi SU3500 è sicuramente il cavallo di battaglia per ogni laboratorio.

Microscopio Elettronico a scansione Schottky Field Emission SU5000

L’innovativo FE-SEM analitico consente una transizione semplice tra alto vuoto e modalità a pressione variabile. L’EM Wizard è il sistema per l’imaging SEM che va oltre le condizioni e le ricette di base preimpostate. La sua facilità d’uso apre una nuova porta per la ricerca sui materiali, lo sviluppo e molto altro ancora.

Microscopio Elettronico a scansione Ultra-High-Resolution Schottky SU7000

Il moderne anlaisi FE-SEM richiedono non solo alte prestazioni, ma anche una moltitudine di funzionalità tra cui osservazione ad ampio raggio, analisi in-situ, pressione variabile, imaging ad alta risoluzione a basse tensioni di accelerazione e raccolta simultanea di più segnali. L’Hitachi SU7000 è progettato per affrontare questi aspetti e molto altro offrendo informazioni avanzate per esigenze diversificate nel campo della microscopia elettronica.

Microscopio Elettronico a scansione Ultra-High-Resolution SU9000

La sorgente Cold Field Emission è ideale per l’imaging ad alta risoluzione con una piccola source size e energy spread. L’innovativa tecnologia CFE Gun contribuisce al massimo nelle analsi FE-SEM con luminosità e stabilità del fascio superiori, offrendo immagini ad alta risoluzione e analisi elementare di alta qualità. Il design esclusivo dell’objective lens ha anche una capacità di EELS e di diffrazione.

Microscopio Elettronico a scansione Ultra-High-Resolution Serie Regulus

Come nuovo brand di FE-SEM, la gamma della serie Regulus comprende quattro modelli: – Regulus8100, – Regulus8220, – Regulus8230 – Regulus8240 Questi nuovi strumenti ampliano le funzioni della serie SU8200 con l’uso di una piattaforma comune.

Focused Ion Beam SEM

Focused Ion e Electron Beam System & Triple Beam System NX2000

I FIB-SEM sono diventati gli strumenti indispensabile per la caratterizzazione e l’analisi delle piu’ recenti tecnologie e dei materiali nanometrici. Una richiesta sempre crescente di lamelle TEM ultrasottili senza artefatti durante l’elaborazione FIB richiede il meglio delle tecnologie di ottica ionica ed elettronica. Il sistema Hitachi NX2000 ad alte prestazioni di Hitachi e il sistema SEM ad alta risoluzione con le sue esclusive tecnologie di controllo dell’orientamento del campione e il triple beam, supportano un elevato throughput e una preparazione di campioni TEM di alta qualità per applicazioni all’avanguardia.

Focused Ion e Electron Beam System Ethos NX5000

L’Hitachi Ethos FIB-SEM incorpora l’ultima generazione di FE-SEM con brillanza e stabilità del fascio eccellenti. Ethos offre immagini ad alta risoluzione a bassa tensione combinate con ottiche ioniche per una preparativa su scala nanometrica.

Real-time 3D FIB-SEM NX9000 analitico

Il nuovo sistema FIB-SEM di Hitachi, l’NX9000, incorpora un layout ottimizzato per un vero e proprio sezionamento seriale ad alta risoluzione per affrontare le ultime richieste nell’analisi strutturale 3D e per le analisi TEM e 3DAP. Il sistema FIB-SEM NX9000 consente la massima precisione nella preparazione dei materiali per un’ampia gamma di settori come materiali avanzati, dispositivi elettronici, tessuti biologici e molte altre applicazioni.

Transmission Electron Microscope 

Microscopio Elettronico a Trasmissione HT7800 Series

Le serie HT7800 comprende TEM da 120kV con funzionalità migliorate. La fotocamera a schermo ad alta risoluzione e la funzione Image Navigation garantiscono un comodo funzionamento digitale in un ambiente illuminato. L’HT7800 offre immagini ad alto contrasto su un’ampia area mentre l’HT7830 garantisce la migliore risoluzione della categoria.

Microscopio Elettronico a Trasmissione H-9500

L’H-9500 è un TEM ad altissima risoluzione da 300 kV con una potenza superiore. Il suo stabile alimentatore ad alta tensione e il suo stage laterale consentono di ottenere immagini ad altissima risoluzione con un alto troughput.

Microscopio Elettronico a Trasmissione ad Emissione di Campo HF-3300

L’HF-3300 è il FE-TEM high-end di Hitachi che utilizza una sorgente di elettroni FE a cotodo freddo ad alta brillanza e un’alta tensione di accelerazione di 300kV per consentire sia l’imaging ad altissima risoluzione che l’analisi ad alta sensibilità. L’imaging simultaneo di STEM e SEM consente l’osservazione della struttura interna insieme alla topografia di superficie.

Microscopio Elettronico a Trasmissione ad Emissione di Campo HD-2700 con e senza correttore di aberrazione sferico

L’HD-2700 è un STEM a 200kV con sorgente di elettroni FE sia per l’imaging ad alta risoluzione che per l’analisi ad alta sensibilità. L’imaging simultaneo di STEM e SEM consente l’osservazione della struttura interna insieme alla topografia di superficie. Il grande angolo solido del doppio EDX consente un’analisi ad alta sensibilità e alto throughput. Il correttore di aberrazione di Hitachi offre immagini di altissima risoluzione a livello atomico e analisi della sensibilità ultra elevata con funzione di correzione dell’aberrazione automatica.

Microscopio Elettronico a Trasmissione ad Emissione di Campo HF5000

L’esclusivo TEM / STEM a correzione di aberrazione a 200 kV di Hitachi consente di avere l’armonia perfetta tra risoluzione delle immagini e prestazioni analitiche. La spatial resolution di 0.078 nm in modalità STEM è ottenuta grazie ad elevate capacità di inclinazione del campione e ai detector EDX con un di grandi dimensioni, il tutto in un’unica configurazione di lenti obiettivo.L’HF5000 si basa sulle funzionalità dello STEM Hitachi HD-2700, includendo il correttore di aberrazione completamente automatizzato di Hitachi, il symmetrical dual SDD EDX e il Cs-corrected SE imaging. Incorpora anche le tecnologie avanzate TEM / STEM sviluppate nella serie HF. L’integrazione di queste tecnologie in una nuova piattaforma TEM / STEM da 200 kV consente di ottenere uno strumento con una combinazione ottimale di imaging e analisi sub-Å, nonché la flessibilità e le capacità uniche per affrontare le analisi più avanzate.

Atomic Force Microscope 

Unità per il Controllo Ambientale AFM5300E

Il microscopio a forza atomica Hitachi AFM5300E è rivolto alla ricerca e offre sensibilità, precisione e risoluzione delle misure di proprietà elettromagnetiche in condizioni di alto vuoto ad alto livello. Inoltre, è un punto di riferimento per un completo controllo delle condizioni ambientali in camera ed è l’unico strumento sul mercato che consente l’analisi AFM in aria / liquido / vuoto, in un ampio range di temperature (da -120 ° C a 800 ° C), campi magnetici o controlli di umidità.

Scanning Probe Microscope AFM5500M

L’Hitachi AFM5500M è una piattaforma SPM dotata di uno stage da 4 pollici, ottimizzato per campioni di medie dimensioni. Semplice da usare, offre eccezionali livelli di automazione e accuratezza, oltre alla correlazione per le indagini AFM / SEM.