Microscopia Elettronica

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Conventional Scanning Electron Microscope 

Prestazioni e potenza in una piattaforma flessibile. I microscopi a scansione elettronica Hitachi High-Technologies SU3800 / SU3900 offrono operabilità ed espandibilità. L'operatore può automatizzare molte operazioni e utilizzare efficientemente le loro elevate prestazioni. SU3900 è dotato di una camera per l'osservazione di campioni di grandissime dimensioni.

Microscopio Elettronico a scansione SU3800 / SU3900

Prestazioni e potenza in una piattaforma flessibile. I microscopi a scansione elettronica Hitachi High-Technologies SU3800 / SU3900 offrono operabilità ed espandibilità. L’operatore può automatizzare molte operazioni e utilizzare efficientemente le loro elevate prestazioni. SU3900 è dotato di una camera per l’osservazione di campioni di grandissime dimensioni.
L'innovativo FE-SEM analitico consente una transizione semplice tra alto vuoto e modalità a pressione variabile. L'EM Wizard è il sistema per l'imaging SEM che va oltre le condizioni e le ricette di base preimpostate. La sua facilità d'uso apre una nuova porta per la ricerca sui materiali, lo sviluppo e molto altro ancora.

Microscopio Elettronico a scansione Schottky Field Emission SU5000

L’innovativo FE-SEM analitico consente una transizione semplice tra alto vuoto e modalità a pressione variabile. L’EM Wizard è il sistema per l’imaging SEM che va oltre le condizioni e le ricette di base preimpostate. La sua facilità d’uso apre una nuova porta per la ricerca sui materiali, lo sviluppo e molto altro ancora.
Il moderne anlaisi FE-SEM richiedono non solo alte prestazioni, ma anche una moltitudine di funzionalità tra cui osservazione ad ampio raggio, analisi in-situ, pressione variabile, imaging ad alta risoluzione a basse tensioni di accelerazione e raccolta simultanea di più segnali. L'Hitachi SU7000 è progettato per affrontare questi aspetti e molto altro offrendo informazioni avanzate per esigenze diversificate nel campo della microscopia elettronica.

Microscopio Elettronico a scansione Ultra-High-Resolution Schottky SU7000

Il moderne anlaisi FE-SEM richiedono non solo alte prestazioni, ma anche una moltitudine di funzionalità tra cui osservazione ad ampio raggio, analisi in-situ, pressione variabile, imaging ad alta risoluzione a basse tensioni di accelerazione e raccolta simultanea di più segnali. L’Hitachi SU7000 è progettato per affrontare questi aspetti e molto altro offrendo informazioni avanzate per esigenze diversificate nel campo della microscopia elettronica.
La sorgente Cold Field Emission è ideale per l'imaging ad alta risoluzione con una piccola source size e energy spread. L'innovativa tecnologia CFE Gun contribuisce al massimo nelle analsi FE-SEM con luminosità e stabilità del fascio superiori, offrendo immagini ad alta risoluzione e analisi elementare di alta qualità. Il design esclusivo dell'objective lens ha anche una capacità di EELS e di diffrazione.

Microscopio Elettronico a scansione Ultra-High-Resolution SU9000

La sorgente Cold Field Emission è ideale per l’imaging ad alta risoluzione con una piccola source size e energy spread. L’innovativa tecnologia CFE Gun contribuisce al massimo nelle analsi FE-SEM con luminosità e stabilità del fascio superiori, offrendo immagini ad alta risoluzione e analisi elementare di alta qualità. Il design esclusivo dell’objective lens ha anche una capacità di EELS e di diffrazione.
Come nuovo brand di FE-SEM, la gamma della serie Regulus comprende quattro modelli: - Regulus8100, - Regulus8220, - Regulus8230 - Regulus8240 Questi nuovi strumenti ampliano le funzioni della serie SU8200 con l'uso di una piattaforma comune.

Microscopio Elettronico a scansione Ultra-High-Resolution Serie Regulus

Come nuovo brand di FE-SEM, la gamma della serie Regulus comprende quattro modelli: – Regulus8100, – Regulus8220, – Regulus8230 – Regulus8240 Questi nuovi strumenti ampliano le funzioni della serie SU8200 con l’uso di una piattaforma comune.

Focused Ion Beam SEM

I FIB-SEM sono diventati gli strumenti indispensabile per la caratterizzazione e l'analisi delle piu’ recenti tecnologie e dei materiali nanometrici. Una richiesta sempre crescente di lamelle TEM ultrasottili senza artefatti durante l'elaborazione FIB richiede il meglio delle tecnologie di ottica ionica ed elettronica. Il sistema Hitachi NX2000 ad alte prestazioni di Hitachi e il sistema SEM ad alta risoluzione con le sue esclusive tecnologie di controllo dell'orientamento del campione e il triple beam, supportano un elevato throughput e una preparazione di campioni TEM di alta qualità per applicazioni all'avanguardia.

Focused Ion e Electron Beam System & Triple Beam System NX2000

I FIB-SEM sono diventati gli strumenti indispensabile per la caratterizzazione e l’analisi delle piu’ recenti tecnologie e dei materiali nanometrici. Una richiesta sempre crescente di lamelle TEM ultrasottili senza artefatti durante l’elaborazione FIB richiede il meglio delle tecnologie di ottica ionica ed elettronica. Il sistema Hitachi NX2000 ad alte prestazioni di Hitachi e il sistema SEM ad alta risoluzione con le sue esclusive tecnologie di controllo dell’orientamento del campione e il triple beam, supportano un elevato throughput e una preparazione di campioni TEM di alta qualità per applicazioni all’avanguardia.
L'Hitachi Ethos FIB-SEM incorpora l'ultima generazione di FE-SEM con brillanza e stabilità del fascio eccellenti. Ethos offre immagini ad alta risoluzione a bassa tensione combinate con ottiche ioniche per una preparativa su scala nanometrica.

Focused Ion e Electron Beam System Ethos NX5000

L’Hitachi Ethos FIB-SEM incorpora l’ultima generazione di FE-SEM con brillanza e stabilità del fascio eccellenti. Ethos offre immagini ad alta risoluzione a bassa tensione combinate con ottiche ioniche per una preparativa su scala nanometrica.
Il nuovo sistema FIB-SEM di Hitachi, l'NX9000, incorpora un layout ottimizzato per un vero e proprio sezionamento seriale ad alta risoluzione per affrontare le ultime richieste nell'analisi strutturale 3D e per le analisi TEM e 3DAP. Il sistema FIB-SEM NX9000 consente la massima precisione nella preparazione dei materiali per un'ampia gamma di settori come materiali avanzati, dispositivi elettronici, tessuti biologici e molte altre applicazioni.

Real-time 3D FIB-SEM NX9000 analitico

Il nuovo sistema FIB-SEM di Hitachi, l’NX9000, incorpora un layout ottimizzato per un vero e proprio sezionamento seriale ad alta risoluzione per affrontare le ultime richieste nell’analisi strutturale 3D e per le analisi TEM e 3DAP. Il sistema FIB-SEM NX9000 consente la massima precisione nella preparazione dei materiali per un’ampia gamma di settori come materiali avanzati, dispositivi elettronici, tessuti biologici e molte altre applicazioni.

Transmission Electron Microscope 

Le serie HT7800 comprende TEM da 120kV con funzionalità migliorate. La fotocamera a schermo ad alta risoluzione e la funzione Image Navigation garantiscono un comodo funzionamento digitale in un ambiente illuminato. L'HT7800 offre immagini ad alto contrasto su un’ampia area mentre l'HT7830 garantisce la migliore risoluzione della categoria.

Microscopio Elettronico a Trasmissione HT7800 Series

Le serie HT7800 comprende TEM da 120kV con funzionalità migliorate. La fotocamera a schermo ad alta risoluzione e la funzione Image Navigation garantiscono un comodo funzionamento digitale in un ambiente illuminato. L’HT7800 offre immagini ad alto contrasto su un’ampia area mentre l’HT7830 garantisce la migliore risoluzione della categoria.
L'HD-2700 è un STEM a 200kV con sorgente di elettroni FE sia per l'imaging ad alta risoluzione che per l'analisi ad alta sensibilità. L'imaging simultaneo di STEM e SEM consente l'osservazione della struttura interna insieme alla topografia di superficie. Il grande angolo solido del doppio EDX consente un'analisi ad alta sensibilità e alto throughput. Il correttore di aberrazione di Hitachi offre immagini di altissima risoluzione a livello atomico e analisi della sensibilità ultra elevata con funzione di correzione dell'aberrazione automatica.

Microscopio Elettronico a Trasmissione ad Emissione di Campo HD-2700 con e senza correttore di aberrazione sferico

L’HD-2700 è un STEM a 200kV con sorgente di elettroni FE sia per l’imaging ad alta risoluzione che per l’analisi ad alta sensibilità. L’imaging simultaneo di STEM e SEM consente l’osservazione della struttura interna insieme alla topografia di superficie. Il grande angolo solido del doppio EDX consente un’analisi ad alta sensibilità e alto throughput. Il correttore di aberrazione di Hitachi offre immagini di altissima risoluzione a livello atomico e analisi della sensibilità ultra elevata con funzione di correzione dell’aberrazione automatica.
L'esclusivo TEM / STEM a correzione di aberrazione a 200 kV di Hitachi consente di avere l'armonia perfetta tra risoluzione delle immagini e prestazioni analitiche. La spatial resolution di 0.078 nm in modalità STEM è ottenuta grazie ad elevate capacità di inclinazione del campione e ai detector EDX con un di grandi dimensioni, il tutto in un'unica configurazione di lenti obiettivo.L'HF5000 si basa sulle funzionalità dello STEM Hitachi HD-2700, includendo il correttore di aberrazione completamente automatizzato di Hitachi, il symmetrical dual SDD EDX e il Cs-corrected SE imaging. Incorpora anche le tecnologie avanzate TEM / STEM sviluppate nella serie HF. L'integrazione di queste tecnologie in una nuova piattaforma TEM / STEM da 200 kV consente di ottenere uno strumento con una combinazione ottimale di imaging e analisi sub-Å, nonché la flessibilità e le capacità uniche per affrontare le analisi più avanzate.

Microscopio Elettronico a Trasmissione ad Emissione di Campo HF5000

L’esclusivo TEM / STEM a correzione di aberrazione a 200 kV di Hitachi consente di avere l’armonia perfetta tra risoluzione delle immagini e prestazioni analitiche. La spatial resolution di 0.078 nm in modalità STEM è ottenuta grazie ad elevate capacità di inclinazione del campione e ai detector EDX con un di grandi dimensioni, il tutto in un’unica configurazione di lenti obiettivo.L’HF5000 si basa sulle funzionalità dello STEM Hitachi HD-2700, includendo il correttore di aberrazione completamente automatizzato di Hitachi, il symmetrical dual SDD EDX e il Cs-corrected SE imaging. Incorpora anche le tecnologie avanzate TEM / STEM sviluppate nella serie HF. L’integrazione di queste tecnologie in una nuova piattaforma TEM / STEM da 200 kV consente di ottenere uno strumento con una combinazione ottimale di imaging e analisi sub-Å, nonché la flessibilità e le capacità uniche per affrontare le analisi più avanzate.