L’Hitachi FlexSEM 1000 II utilizza la sorgente di elettroni termoionici e raggiunge una risoluzione di 4,0 nm con il suo design compatto grazie alla sua configurazione “da banco”. La modalità basso vuoto consente l’osservazione rapida di campioni non conduttivi senza metallizzazione. L’Ultra Variable pressure Detector (UVD) opzionale migliora la capacità di imaging di superficie dei campioni in modalità di basso vuoto.
Il microscopio elettronico a scansione FlexSEM 1000 II è dotato di sistemi di rilevamento ottico e detector di nuova concezione che forniscono immagini e prestazioni analitiche impareggiabili in una configurazione di facile utilizzo. Tenendo sempre in primo piano l’efficienza, FlexSEM presenta un design adattabile, separabile e compatto, in modo che possa essere installato in spazi limitati in ufficio, in laboratorio o persino in spazi mobili. Progettato per attrarre sia il neofita che il microscopista esperto, è adatto ad una vasta gamma di applicazioni, inclusi campioni di materiale biologico e avanzato. Questo microscopio sicuramente amplierà le vostre analisi e le vostre aspettative.
Colonna compatta e ad alte prestazioni
Ottima risoluzione in un sistema compatto. Il FlexSEM utilizza un sistema ottico elettroncio di nuova concezione con un rivelatore ad alta sensibilità collaudato e affidabile, raggiungendo l’imaging fino a 4 nm.
Immagine a alta risoluzione
L’ottica elettronica incorpora una lente con obiettivo a bassa aberrazione e un esclusivo sistema di polarizzazione del gun che consente di erogare corrente ad alta emissione.
Le nuove tecnologie a basso vuoto consentono l’osservazione della superficie di campioni non conduttivi senza pre-elaborazione, attraverso l’intera gamma di pressione e di accelerazione.
Nuove funzioni migliorate
L’interfaccia utente è facile da usare anche da parte di utenti inesperti e, con le varie funzioni automatizzate, è possibile ottenere un’acquisizione rapida e di alta qualità a prescindere dal livello di esperienza dell’utente. È possibile installare anche un touch screen per migliorare ulteriormente l’esperienza di analisi.
Navigazione intuitiva
La “SEM MAP” aiuta a localizzare rapidamente le regioni di interesse e fornisce immagini ottiche e SEM correlate e accurate con un solo clic. Questa nuova funzione è completamente integrata nell’interfaccia utente grafica.
Compatto
Il design compatto (larghezza 450 mm) riduce al minimo l’ingombro del sistema. Il FlexSEM è progettato con unità separabili per il posizionamento flessibile del sistema. L’intero sistema richiede solo una presa standard a muro per l’alimentazione.
Qualità dell’immagine
La colonna ottica a elettroni di nuova concezione e il rivelatore a pressione ultra-variabile (UVD) consentono un imaging superiore delle superfici dei campioni a basse tensioni di accelerazione e condizioni di vuoto ridotto.
Frattura di resina, 5 kV, 5.000X, Frattura di pirite, 5 kV, 1.000X, 50 Pa, UVD 40 Pa, UVD
Funzionamento intuitivo
La GUI intuitiva e gli accurati e veloci algoritmi Auto Focus Control (AFC) e Auto Brightness e Contrast Control (ABCC) richiedono solo 5 secondi per consentire prestazioni di imaging ottimizzate con il minimo dispendio di tempo e fatica.
Nuova navigazione – “SEM MAP”
La funzione “SEM MAP” consente di attraversare un intero campione senza difficoltà. E’ possibile, con un solo clic, navigare nel campione con l’uso della telecamera ottica e ottenere immagini ottiche e SEM correlate accurate.
Scienze dei Materiali
Disolfuro di tungsteno
15kv, 10.000X, Segnale SE 3kv, 10.000X, Segnale SE
Il FlexSEM utilizza un sistema Opti-Bias che fornisce una maggiore corrente di emissione a bassa kV per una luminosità ottimale. Il risultato è la migliore nitidezza dell’immagine (S / N) a basse tensioni di accelerazione.
L’interfaccia utente è facile da usare anche da parte di utenti inesperti e, con le varie funzioni automatizzate, è possibile ottenere un’acquisizione rapida e di alta qualità a prescindere dal livello di esperienza dell’utente. È possibile installare anche un touch screen per migliorare ulteriormente l’esperienza di analisi. 
